ANSI/TIA-568.3-D 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光纖布線的傳輸性能和測試要求。已安裝光纖布線的第 1 層測試需要測量衰減（光損耗）、長度和極性。

對于多模布線，應(yīng)根據(jù) ANSI/TIA-526-14-C 進(jìn)行衰減測量。ANSI/TIA-526-14-C 規(guī)定發(fā)射線的輸出必須滿足指定的環(huán)形通量 (EF) 模板的要求。符合 EF 啟動(dòng)條件可確保測量的可重復(fù)性。下面是一個(gè) EF 模板示例，指示目標(biāo)、限制和溢出的啟動(dòng)值。

圖 1 1

850nm 處 50um 光纖的 EF 要求被定義為一組特定徑向值的限制值，如下表所示。

圖 2 1

TestPro 的多模光纖適配器使用 850nm 和 1300nm 雙波長 LED 光源，滿足環(huán)形通量要求。Arden Photonics 的 MPX Explorer 測試儀器已用于驗(yàn)證環(huán)通量測量是否滿足所需的 EF 限制。在 FC 到 LC 參考線結(jié)束時(shí)進(jìn)行了測量。

圖 3 1

環(huán)形通量不確定度

對于現(xiàn)場測試設(shè)備，單個(gè)光端口發(fā)射兩個(gè)波長。這將不允許同時(shí)校準(zhǔn)兩個(gè)波長。對兩種波長使用通用的心軸/模式調(diào)節(jié)器將減少模板內(nèi)的合規(guī)余量并增加不確定性。

由于光源波長變化、模式控制器、溫度變化、其他物理變化和測量設(shè)備的影響，如果任何變量發(fā)生變化，工廠校準(zhǔn)時(shí)的發(fā)射條件在現(xiàn)場將不會(huì)完全相同。使用 IEC 61280-4-1 中描述的衰減人工制品有助于確保設(shè)備產(chǎn)生性能可接受的發(fā)射條件。