Fluke 117C 電氣技術(shù)人員用萬用表


  查找和判定電路故障不僅需要用探測儀探測,而且需要模擬和數(shù)字電路正確工作的知識(shí)。有許多電子故障排查的書籍和說明書。雖然這些書籍中故障排查采用不同的方法,但多數(shù)書籍都贊同成功的故障排查是藝術(shù)與科學(xué)的完美結(jié)合。

已知良好裝置

  一種常用的方法是利用數(shù)字儲(chǔ)存示波器(DSO)捕捉和儲(chǔ)存波形之能力。此方法已稱為已知良好裝置(KGU)方法,該方法建立在一個(gè)簡單的原理上:工作正常的電子系統(tǒng)其電路范圍內(nèi)關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)處具有可預(yù)測的波形,并可捕捉和儲(chǔ)存這些波形。此種參比庫可有效儲(chǔ)存在數(shù)字儲(chǔ)存示波器上,作為一個(gè)聯(lián)機(jī)資源,或可打印輸出作為硬拷貝參考文件使用。如果該系統(tǒng)或一套相同系統(tǒng)稍后顯示故障,則可從故障系統(tǒng)捕捉波形 - 稱為被測裝置(DUT)- 并與已知良好裝置進(jìn)行比較。

   從而可對(duì)被測裝置(DUT)進(jìn)行維修或更換。

  為了構(gòu)建一個(gè)參比庫,應(yīng)從識(shí)別出已知良好裝置(KGU)上的相應(yīng)測試點(diǎn)或節(jié)點(diǎn)開始。現(xiàn)在,運(yùn)行已知良好裝置(KGU)以察看其性能,并從每個(gè)節(jié)點(diǎn)捕捉波形。根據(jù)需要為每個(gè)波形加注解。

   當(dāng)系統(tǒng)或被測裝置(DUT)中的故障信息顯露出來時(shí),許多技術(shù)人員采用決策樹逼進(jìn)該故障 - 目標(biāo)是確定是否應(yīng)維修或更換被測裝置(DUT)。這通??紤]到故障所造成系統(tǒng)停機(jī)時(shí)間成本和生產(chǎn)率損失的相關(guān)計(jì)算。許多因素與計(jì)算有關(guān),其中包括已知良好裝置(KGU)是否可用,求助用已知良好裝置(KGU)更換被測裝置(DUT)需要多長時(shí)間。

  被測裝置(DUT)的成本是另一個(gè)問題。成本越低,更換被測裝置(DUT)就越具有可行性,從而降低停機(jī)時(shí)間。當(dāng)系統(tǒng)再次上電和運(yùn)行時(shí),應(yīng)根據(jù)已知良好裝置(KGU)對(duì)發(fā)生故障的裝置進(jìn)行故障排查。

   請(qǐng)記?。哼@些測量方法也可用作一種預(yù)防性測量。雖然當(dāng)懷疑一個(gè)電路發(fā)生故障時(shí),需要故障排查。但在電路故障可導(dǎo)致昂貴停機(jī)時(shí)間的任何情況下,我們建議應(yīng)進(jìn)行常規(guī)測量。

故障排查方法

  為方便起見,我們將研究下面三個(gè)常見故障排查方法:無論哪個(gè)情況在當(dāng)時(shí)是適合的,請(qǐng)記?。杭词共ㄐ纬闃訖z查顯示無異常,檢查波形是否存在快速移動(dòng)瞬態(tài)或假信號(hào)也是非常重要的。這些瞬態(tài)或假信號(hào)可能難以發(fā)現(xiàn),但現(xiàn)在數(shù)字儲(chǔ)存示波器的高采樣速率以及有效觸發(fā)將有助于捕捉到它們。

排查方法 1:通過已知良好裝置(KGU)檢測被測裝置(DUT)

  此方法是您可使用已知良好裝置(KGU)和參比庫。

1. 確定被測裝置(DUT)和已知良好裝置(KGU)均設(shè)置到相同工作模式。

2. 在系統(tǒng)或方塊圖中的高電平點(diǎn)開始,使用數(shù)字儲(chǔ)存示波器查看是否存在信號(hào)。例如:查看線電壓供電以及至各種子系統(tǒng)的隨后直流供電電壓。這需要用探針檢測系統(tǒng)中主要節(jié)點(diǎn)處的主要輸入和輸出信號(hào)。

3. 變更工作模式,對(duì)比關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)處的信號(hào),查看是否發(fā)生故障。兩個(gè)裝置均有信號(hào)時(shí),您要進(jìn)行2項(xiàng)測試:

- 在數(shù)字儲(chǔ)存示波器通道1(Channel 1)上顯示已知良好裝置(KGU)的實(shí)時(shí)波形,并在通道2(Channel 2)上顯示被測裝置(DUT)的實(shí)時(shí)波形。
- 從已知良好裝置(KGU)捕捉示波圖,并將其與被測裝置(DUT)示波圖進(jìn)行疊加。進(jìn)行一次波形對(duì)比或合格/不合格測試。

4. 繼續(xù)進(jìn)行此過程,直至您看到被測裝置(DUT)波形和已知良好裝置(KGU)波形之間的不一致為止。

通過已知良好裝置(KGU)檢測被測裝置(DUT)

排查方法 2:通過電路檢測被測裝置(DUT)電路圖。

  此方法是在沒有適合被測裝置(DUT)的已知良好裝置(KGU)和參比庫,但可找到被測裝置(DUT)的電路圖。

1. 查看電路圖,以理解被測裝置(DUT)的基本工作原理。

- 諸如振蕩器、放大器和信號(hào)調(diào)節(jié)器(衰減器、濾波器和除法器)等模擬電路應(yīng)顯示均勻的波形圖樣。
- 門電路、開關(guān)和處理器等數(shù)字電路應(yīng)顯示具有可預(yù)測振幅、脈沖周期和甚至脈沖圖樣的波形。

2. 在系統(tǒng)或方塊圖中的高電平點(diǎn)開始,使用數(shù)字儲(chǔ)存示波器查看是否存在基本信號(hào)。例如:查看線電壓供電以及至各種子系統(tǒng)的隨后直流供電電壓。這需要用探針檢測系統(tǒng)中主要節(jié)點(diǎn)處的主要輸入和輸出信號(hào)。

3. 變更被測裝置(DUT)的工作模式,利用數(shù)字儲(chǔ)存示波器的儲(chǔ)存能力捕捉和對(duì)比波形。

? 使理論上"良好"波形可視化,并將其與數(shù)字儲(chǔ)存示波器上所顯示的波形進(jìn)行比較。查找任何明顯的異常。

4. 利用水平或垂直光標(biāo)快速判定示波圖的時(shí)間或振幅是否符合電路設(shè)計(jì)所規(guī)定的時(shí)間或振幅范圍內(nèi)。

排查方法3:復(fù)雜的被測裝置(DUT),無電路圖。

  此方法用于被測裝置(DUT)是一種相當(dāng)復(fù)雜的系統(tǒng),沒有已知良好裝置(KGU),沒有被測裝置(DUT)的方塊圖或原理圖。

1. 不借助電路圖,通過識(shí)別系統(tǒng)中的高電平點(diǎn),并檢查是否存在基本信號(hào)。例如:利用數(shù)字儲(chǔ)存示波器(DSO)查看線電壓供電以及至各種子系統(tǒng)的隨后直流供電電壓。這需要用探針檢測系統(tǒng)中主要節(jié)點(diǎn)處的主要輸入和輸出信號(hào)。

2. 變更工作模式對(duì)比關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)處的波形,查看是否發(fā)生故障。存儲(chǔ)這些波形圖。

3. 如果被測裝置(DUT)的檢測和關(guān)鍵電路節(jié)點(diǎn)波形分析顯示沒有明顯的故障,則應(yīng)利用數(shù)字儲(chǔ)存示波器的儲(chǔ)存波形,讓別的同行專家進(jìn)行判斷。

? 識(shí)別出被測裝置(DUT)的"可疑"波形。
? 利用數(shù)字儲(chǔ)存示波器(DSO)的PC接口以位圖(.bmp)格式將這些波形文件傳輸?shù)揭慌_(tái)個(gè)人計(jì)算機(jī)中保存。
? 將這些文件以電子郵件形式發(fā)送給世界上任何地方的同行或工廠專家,以幫助對(duì)電路故障排查。

復(fù)雜的被測裝置(DUT),無電路圖。